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铜套射线探伤检测工艺(二)

文章出处:铜套厂家 责任编辑:铜套 发布时间:2020-06-03 09:51    浏览:次

  这次我们就来说下铜套射线探伤的第二部分,第二部分也是一个准备的过程,这一部分就是透照参数的确定。

  透照参数我们主要包括以下几个方面:1.射线能量选择原则是:在保证能穿透工件的前提下,尽量采用较低的能量,以提高射线照相灵敏度。

  2.焦距:确定焦距时必须考虑满足射线照相对几何不清洗度的规定。通常的情况下,采用固定的焦距进行透照,如600mm焦距。

  3.曝光量:曝光量必须达到一定的大小,才能保证小细节影像的可识别性。对普通灵敏度技术,曝光量应小于15mA;对较高灵敏度技术,曝光量应小于20;对高灵敏度技术,曝光量应小于30.

  4.散射线的控制:在射线照相中,散射线产于射线照相的任何物体,其中最主要的散射源是被透照的工件和工件后方的物体。散射线对影响质量的影响主要表现在降低影响的对比度和产生边饰现象,是影响的边界区域变得很模糊。因此,控制散射线的产生是非常关键的。减少到达胶片的散射线的主要方法有滤波、光栅、遮蔽和屏蔽等。

  这就是射线探伤的透照参数设定了。

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